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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4:Direct RF power injection method
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下集成电路(IC)抗扰度的测量方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。本方法确保抗扰度测量的高度可重复性和相关性。
本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。
Basic information
Standard No：GB/T 42968.4-2024
Standard Name：集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法
English Name：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 4:Direct RF power injection method
Standard Status：现行
Release Date：2024-12-31
Effective Date：2024-12-31
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：IEC 61967-4,IEC 62132-1
Adopted Standards：IEC 62132-4:2006
Adopted Standard Name：《集成电路 电磁抗扰度测量150 kHz～1 GHz 第4部分:射频功率直接注入法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：24
Number of words：34 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42968.4
Drafter：张强、崔强、沈学其、乔彦彬、方文啸、吴建飞、刘小军、王少启、付君、杨博、李金龙、崔培宾、廉鹏飞、史锁兰、黄旭彪、张红升、刘洋、鲍晶晶
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、南京容测检测技术有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、江苏省质量和标准化研究院、上海市计量测试技术研究院、苏州菲利波电磁技术有限公司、安徽省计量科学研究院、中国信息通信研究院、深圳市铨兴科技有限公司、重庆邮电大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、东莞职业技术学院、上海精密计量测试研究所
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
