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C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation(LETID) test—Detection
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了晶体硅光伏组件光热诱导衰减（LETID）的试验方法，包括仪器装置、样品准备、测试步骤、结果处理和报告内容等。
本文件适用于晶体硅光伏组件，用于揭示样品对 LETID 衰减机制的敏感性，但不能精确测量其在户外实际的衰减情况。户外衰减的程度和时间尺度取决于所处气候和组件技术。
Basic information
Standard No：GB/Z 119-2026
Standard Name：晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID)试验 检测
English Name：C-Si photovoltaic(PV) modules—Light and elevated temperature induced degradation(LETID) test—Detection
Standard Status：现行
Release Date：2026-01-04
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：27.160
CCS Number：K83
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 9535.1-2025,GB/T 9535.2-2025,IEC TS 61836,IEC 61215-1,IEC 61215-2,IEC TS 60904-13,ISO/IEC Guide 98-3:2008
Adopted Standards：IEC TS 63342:2022
Adopted Standard Name：《晶体硅光伏组件 光热诱导衰减(LETID）试验 检测》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：17 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2026-01-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：119
Drafter：许涛、庄天奇、葛华云、黄婷、李振国、裴会川、郭素琴、冯春暖、刘亚锋、徐敏伟、陈磊
Drafting Organization：常熟阿特斯阳光电力科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、阿特斯阳光电力集团股份有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、东方日升新能源股份有限公司、上海电气集团股份有限公司、浙江鉴衡检测技术有限公司
Management Organization：全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会(SAC/TC 90)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
