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Nanomanufacturing—Key Control Characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3:Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting(TCSPC)
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了使用时间相关单光子计数法（TCSPC)对半导体量子点（QDs)荧光寿命进行测量的方法，包括实验步骤、数据处理和测量示例。TCSPC适用于测量从皮秒到纳秒范围的荧光寿命。
本文件适用于QDs的稳定分散液，不适用于固体样品。
Basic information
Standard No：GB/Z 37664.3-2025
Standard Name：纳米制造 关键控制特性 发光纳米材料 第3部分：时间相关单光子计数法测量半导体量子点的荧光寿命
English Name：Nanomanufacturing—Key Control Characteristics—Luminescent nanomaterials—Part 3:Determination of fluorescence lifetime of semiconductor quantum dots using time correlated single photon counting(TCSPC)
Standard Status：现行
Release Date：2025-12-03
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：07.030;07.120
CCS Number：G30
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 6682,GB/T 12805,GB/T 12806,GB/T 12808
Adopted Standards：IEC TS 62607-3-3:2020
Adopted Standard Name：《纳米制造 关键控制特性 第3-3部分:发光纳米材料使用时间相关单光子计数技术测定半导体量子点的荧光寿命》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：25 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2025-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：37664.3
Drafter：刘祖刚、蔡培庆、刘忍肖、康永印、赵飞、葛广路、庞代文、朱小波、郭海清、吕碧琪、张振星
Drafting Organization：深圳瑞华泰薄膜科技股份有限公司、中国计量大学、国家纳米科学中心、广纳珈源(广州)科技有限公司、杭州美联医学股份有限公司、复旦大学义乌研究院、北京北达聚邦科技有限公司、南开大学、纳晶科技股份有限公司、天美仪拓实验室设备(上海)有限公司
Management Organization：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
Proposing Department：中国科学院
