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Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了半导体集成电路脉冲宽度调制(PWM)控制器(以下简称器件)参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路领域中PWM控制器参数的测试。
Basic information
Standard No：GB/T 43061-2023
Standard Name：半导体集成电路 PWM控制器测试方法
English Name：Semiconductor integrated circuits—Test methods of PWM controller
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-04-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L55
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 17940-2000
Publication Information
Number of pages：56
Number of words：100 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43061
Drafter：穆永杰、邓些鹏、贾宁刚、闫永超、杨晓萍、王策、包军林、杨博、胡巧玉
Drafting Organization：中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所、成都华微电子科技有限公司、西安电子科技大学
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业与信息化部
