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Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分（TDI)CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
Basic information
Standard No：GB/T 43063-2023
Standard Name：集成电路 CMOS图像传感器测试方法
English Name：Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L55
Publication Information
Number of pages：36
Number of words：64 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43063
Drafter：李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟
Drafting Organization：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司
Management Organization：中华人民共和国工业和信息化部
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
