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Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了适用于IEC 61837（所有部分)定义的无引线表面贴装石英晶体元件的测量夹具。这些测量夹具按照IEC 604445规定的测量技术，测量(串联)谐振频率、(串联)谐振电阻和等效电路参数L1、C1和C0，负载谐振频率和负载谐振电阻是在IEC 60444-4和IEC 60444-11中确定的。
Basic information
Standard No：GB/T 22319.8-2025
Standard Name：石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
English Name：Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units
Standard Status：现行
Release Date：2008-08-06
Effective Date：2026-07-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.140
CCS Number：L21
Related Standards
Referenced Standards：IEC 60444-5
Adopted Standards：IEC 60444-8:2016
Adopted Standard Name：《石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：Yes
Print Publication Date：2025-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：22319.8
Drafter：杨铁生、宫桂英、孙晓明、高志祥
Drafting Organization：唐山国芯晶源电子有限公司、北京晨晶电子有限公司、泰晶科技股份有限公司、南京中电熊猫晶体科技有限公司
Management Organization：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
