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Semiconductor integrated circuits—System on chip(SoC)
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了片上系统（SoC）的技术要求、电测试方法和检验规则。
本文件适用于片上系统（SoC）的设计、制造、采购、验收。
Basic information
Standard No：GB/T 42835-2023
Standard Name：半导体集成电路 片上系统(SoC)
English Name：Semiconductor integrated circuits—System on chip(SoC)
Standard Status：现行
Release Date：2023-08-06
Effective Date：2023-12-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 191,GB/T 4937.3,GB/T 4937.4,GB/T 4937.11,GB/T 4937.13,GB/T 4937.14,GB/T 4937.15,GB/T 4937.21,GB/T 4937.23,GB/T 4937.26,GB/T 4937.27,GB/T 9178,GB/T 12750,GB/T 17574-1998,GB/T 17626.2-2018,GB/T 17626.4-2018,IEC 60749-6,IEC 60749-8,IEC 60749-9,IEC 60749-24,IEC 60749-28,IEC 60749-36,IEC 61967-2,IEC TS 61967-3,IEC 61967-4,IEC 62132-2,IEC 62132-4,IEC 62215-3
Publication Information
Number of pages：16
Number of words：27 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-08-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42835
Drafter：罗晓羽、徐平江、钟明琛、赵扬、邵瑾、陈燕宁、朱松超、王于波、张海峰、梁路辉、夏军虎、何杰
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、杭州万高科技股份有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
