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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2:Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了集成电路（IC）对射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。本文件适用的频率范围为150 kHz～1 GHz或为TEM小室和宽带TEM小室的特性决定的频率范围。
Basic information
Standard No：GB/T 42968.2-2024
Standard Name：集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法
English Name：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 2:Measurement of radiated immunity—TEM cell and wideband TEM cell method
Standard Status：现行
Release Date：2024-10-26
Effective Date：2024-10-26
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：IEC 60050-131,IEC 60050-161,IEC 61967-2,IEC 62132-1:2006
Adopted Standards：IEC 62132-2:2010
Adopted Standard Name：《集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：36 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-10-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42968.2
Drafter：付君、崔强、黄雪梅、乔彦彬、吴建飞、方文啸、朱赛、亓新、李旸、梁吉明、谢玉章、张红升、熊伟杰、张艳艳、周昕、郑益民、王雪、熊璞、张金玲、麦强、康志能、陈梅双
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
