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Cryptography test criteria for security IC
Standard in brief
Scope of Application：
本标准规定了安全能力依次递增的三个安全等级，以及适用于各安全等级安全芯片的密码检测要求。
本标准适用于安全芯片的密码检测，亦可指导安全芯片的研制。
Basic information
Standard No：GM/T 0008-2012
Standard Name：安全芯片密码检测准则
English Name：Cryptography test criteria for security IC
Standard Status：现行
Release Date：2012-11-22
Effective Date：2012-11-22
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：35.040
CCS Number：L80
Related Standards
Referenced Standards：GM/T 0005
Publication Information
Number of pages：24
Number of words：38 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2013-01-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家密码管理局
Standard Type：QT
Standard Attribute：GM
Other Standard Number：0008
Drafter：李大为、周永彬、罗鹏、刘继业、张建人、张文婧、张翌维、陈立志、叶茵、沈海斌、李慧云、孙东昱、熊燕萍、刘宏伟、陈运、吴震、毛颖颖
Drafting Organization：国家密码管理局商用密码检测中心、信息安全国家重点实验室、清华大学、北京宏思电子技术有限责任公司、国民技术股份有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、浙江大学、中国科学院深圳先进技术研究院、大唐微电子技术有限公司、北京芯光天地集成电路设计有限公司、成都信息工程学院
Management Organization：国家密码管理局
Proposing Department：国家密码管理局
