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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Standard in brief
Scope of Application：
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。〓〓
Basic information
Standard No：GB/T 43087-2023
Standard Name：微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
English Name：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-04-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：71.040.50
CCS Number：N33
Related Standards
Adopted Standards：ISO 20263:2017
Adopted Standard Name：《微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法》
Adoption Level：MOD
Publication Information
Number of pages：44
Number of words：73 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43087
Drafter：权茂华、柳得橹
Drafting Organization：北京科技大学
Management Organization：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
Proposing Department：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
