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Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了半导体集成电路视频编解码（video encoder and decoder）电路中的模拟视频接口类电路（以下简称“器件”）电特性测试方法。
本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。
Basic information
Standard No：GB/T 42970-2023
Standard Name：半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
English Name：Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
Standard Status：现行
Release Date：2023-09-07
Effective Date：2024-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 17574-1998
Publication Information
Number of pages：32
Number of words：54 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2023-09-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：42970
Drafter：李锟、向多春、邱芬、肖书剑、戴广豪、郑培、陈雁、吴淼、翟冠杰、李海龙、蓝东兰
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、成都振芯科技股份有限公司、深圳市赛元微电子有限公司、三旗(惠州)电子科技有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司
Management Organization：全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
