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Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
Standard in brief
Scope of Application：
本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。
Basic information
Standard No：GB/T 44075-2024
Standard Name：纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
English Name：Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
Standard Status：现行
Release Date：2024-05-28
Effective Date：2024-12-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：17.040.20
CCS Number：A42
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 30544.6,GB/T 33252,JJF 1544
Publication Information
Number of pages：20
Number of words：23 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-05-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：44075
Drafter：郭清华、朱建荣、姚建林、袁亚仙、方丹、姜江、席广成、卢荻、王震
Drafting Organization：苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
Management Organization：全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279)
Proposing Department：中国科学院
