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Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
Standard in brief
Scope of Application：
本标准规定了工业硅粉中二氧化硅含量的测定方法。
本标准适用于工业硅粉中二氧化硅含量的测定，测定范围为≥1%。
Basic information
Standard No：YS/T 1160-2016
Standard Name：工业硅粉定量相分析 二氧化硅含量的测定 X射线衍射K值法
English Name：Silicon powder-quantitative phase analysis—Determination of silicon dioxide content—Value K method of X-ray diffraction
Standard Status：现行
Release Date：2016-07-11
Effective Date：2017-01-01
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：29.045
CCS Number：H12
Related Standards
Referenced Standards：GB/T 8170
Publication Information
Number of pages：12
Number of words：12 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2018-12-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：中华人民共和国工业和信息化部
Standard Type：QT
Standard Attribute：YS
Other Standard Number：1160
Drafter：李和平、胡耀东、袁威、金自钦、高珺、杨林、张晶、王书明、李扬、王钟颖、王建波
Drafting Organization：昆明冶金研究院、广州有色金属研究院、国家有色金属及电子材料分析测试中心、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司
Management Organization：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
Proposing Department：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
