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Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2:Synchronous transient injection method
Standard in brief
Scope of Application：
本文件给出了评价集成电路（IC）对快速传导同步瞬态骚扰抗扰度试验方法的通用信息和定义。这些信息包括试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告的内容要求。
本文件的目的是描述通过建立相同的试验环境获得IC抗扰度的定量度量的通用条件，同时也描述了预期会影响试验结果的关键参数。与本文件的偏离需在试验报告中明确地注明。
本文件给出的同步瞬态抗扰度测量方法是使用具有不同幅值、持续时间和极性的，上升时间快速的短脉冲以传导的方式耦合给IC。在本方法中，施加的脉冲需与IC的功能运行同步，目的是确保可控的和可复现的条件。
Basic information
Standard No：GB/T 43034.2-2024
Standard Name：集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分：同步瞬态注入法
English Name：Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 2:Synchronous transient injection method
Standard Status：现行
Release Date：2024-10-26
Effective Date：2024-10-26
Language of Publication：中文简体
Standard Classification
ICS Number：31.200
CCS Number：L56
Related Standards
Adopted Standards：IEC TS 62215-2:2007
Adopted Standard Name：《集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分:同步瞬态注入法》
Adoption Level：IDT
Publication Information
Number of pages：28
Number of words：36 K
Format：大16
Edition：1
Color Pages：0
Electronic Version：Yes
Color Images：No
Print Publication Date：2024-10-01
Standard Revision Information
Has Amendment：No
Other Information
Application Dept：国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Standard Type：CN
Standard Attribute：GB
Other Standard Number：43034.2
Drafter：付君、崔强、方文啸、吴建飞、张海峰、张艳艳、莫国延、李旸、梁吉明、胡小军、邢立文、郑益民、杨红波、董奇峰、熊宇飞、颜伟、褚瑞、康志能、魏海红、陈梅双
Drafting Organization：中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、南京容测检测技术有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、国家无线电监测中心检测中心、中国家用电器研究院、中国信息通信研究院、南京师范大学、东莞职业技术学院
Management Organization：全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
Proposing Department：中华人民共和国工业和信息化部
